bannière
Maison Nouvelles

GUANGDONG LABCOMPANION Ltd. Grâce à un nouveau brevet dans le domaine des tests de semi-conducteurs avec une chambre de test à haute et basse température.

GUANGDONG LABCOMPANION Ltd. Grâce à un nouveau brevet dans le domaine des tests de semi-conducteurs avec une chambre de test à haute et basse température.

April 02, 2025

Dongguan, Chine – 2 avril 2025 –Compagnon de laboratoire, un innovateur de premier plan dans les solutions de tests environnementaux, a obtenu un brevet révolutionnaire pour sa chambre d'essai avancée à haute et basse température Conçu pour la détection de puces semi-conductrices. Le brevet, officiellement délivré par l'Administration nationale chinoise de la propriété intellectuelle le 1er avril 2025 (brevet n° ZL 2024 1 1290322.4), marque une étape importante dans l'engagement de l'entreprise en faveur de la précision et de la fiabilité des tests industriels.

New patent for Lab Companion's chamber

Révolutionner les tests de semi-conducteurs

Cette technologie récemment brevetée introduit un système de pointe capable de soumettre les puces semi-conductrices à des variations de température extrêmes avec une précision inégalée. Cette innovation répond aux défis majeurs de l'industrie des semi-conducteurs, où des tests thermiques précis sont essentiels pour garantir la durabilité et les performances des puces dans diverses conditions de fonctionnement.

Paramètres standard pour les tests environnementaux des puces semi-conductrices

1. Test de température

- Plage de température :

- Plage de fonctionnement : -40 °C à +125 °C (courant pour les puces de qualité industrielle)

- Plage étendue : -65°C à +150°C (pour applications militaires/aérospatiales)

- Cyclage thermique :

- Taux de variation : 5°C/min à 20°C/min (selon les normes de test)

- Temps de séjour : 10 à 30 minutes à des températures extrêmes (pour stabiliser les conditions)

- Cycles : 100 à 1 000 cycles (selon JEDEC, MIL-STD ou AEC-Q100)

2. Test d'humidité

- Humidité relative (HR) : 85 %–95 % HR

- Température : 85°C (couramment utilisée dans les tests « 85/85 » pour le vieillissement accéléré)

- Durée : 500 à 1 000 heures (selon JESD22-A101)

3. Test de choc thermique

- Températures extrêmes : -55 °C à +125 °C (selon la méthode 1011 de la norme MIL-STD-883G)

- Temps de transition : <1 minute (liquide à liquide) ou <5 minutes (air-air)

- Cycles : 50 à 500 cycles

4. Vibrations et contraintes mécaniques

- Gamme de fréquences : 5 Hz–2 kHz (selon MIL-STD-883)

-Accélération : 5–20 G (selon l'application)

5. Autres normes critiques

- Normes JEDEC (par exemple, JESD22-A104 pour le cyclage thermique)

- AEC-Q100 : Qualification des puces de qualité automobile

- MIL-STD-883 : Tests de fiabilité militaire/défense

- IEC 60068 : Lignes directrices générales pour les essais environnementaux

Ces paramètres garantissent que les puces semi-conductrices répondent aux exigences industrielles en matière de performances dans des conditions extrêmes. Les valeurs spécifiques peuvent varier selon l'application (par exemple, électronique grand public ou automobile).

Remarque : reportez-vous toujours à la dernière version des normes pertinentes (JEDEC, AEC, MIL-STD, etc.) pour des protocoles de test précis.

Nos paramètres de test optimisés vont au-delà des normes traditionnelles de trois manières essentielles. Premièrement, nous avons étendu la plage de températures de -70 °C à +175 °C, bien plus large que la plage habituelle de -40 °C à +125 °C, afin de répondre aux exigences des applications en électronique de puissance et aérospatiale. Deuxièmement, nous avons accéléré les cadences de cyclage thermique à 30 °C/min, réduisant ainsi de moitié la durée des tests tout en maintenant la précision, contrairement à l'approche conventionnelle de 5 à 20 °C/min. Troisièmement, nous avons intégré des vibrations multiaxiales (jusqu'à 50 G) avec des chocs thermiques extrêmes (-65 °C ↔ +175 °C en moins de 30 secondes), une combinaison rarement abordée dans les normes plus anciennes comme JEDEC ou MIL-STD. Ces mises à niveau ne se contentent pas de tester les puces ; elles les préparent à l'avenir. » a déclaré le PDG.

« Ce brevet souligne notre engagement à repousser les limites de la technologie des tests », a déclaré un porte-parole de LabCompanion.Notre chambre d'essai à haute et basse température améliore non seulement l'efficacité, mais établit également une nouvelle norme de fiabilité dans le contrôle de la qualité des semi-conducteurs.

Principales caractéristiques et avantages

- Contrôle de précision : L'équipement offre une régulation précise de la température, permettant des tests rigoureux dans une large gamme de conditions thermiques.

- Durabilité améliorée : Conçu pour résister à des cycles thermiques répétés, le système garantit une stabilité et une précision à long terme.

- Fonctionnement convivial : La méthodologie qui l'accompagne simplifie les procédures de test complexes, les rendant accessibles aux applications industrielles.

À la pointe de la technologie des enceintes d'essais environnementales, nous allions innovation constante et connaissance du marché pour développer des solutions d'essais avancées pour tous les secteurs. Forts de notre expérience sur le marché grâce à une qualité et un service exceptionnels, nous sommes motivés par votre volonté de repousser les limites chaque jour.

Pour plus d'informations sur les équipements de test de température, visitez [Chambre d'essai à haute et basse température] .

laisser un message

laisser un message
Si vous êtes intéressé par nos produits et souhaitez en savoir plus, veuillez laisser un message ici, nous vous répondrons dès que possible.
soumettre

Maison

Des produits

WhatsApp

Contactez-nous