Objectif et application de l’essai PCT (1)

Objectif et application de l’essai PCT (1)

Le test PCT est généralement connu sous le nom de test de cuisson à l'autocuiseur ou test de vapeur saturée. Le plus important est de tester le produit à tester dans des températures difficiles, une humidité saturée (100 % H.R.) [vapeur d'eau saturée] et un environnement sous pression, tester l'humidité élevée. résistance du produit à tester, pour circuit imprimé (PCB&FPC), utilisé pour effectuer un test d'absorption d'humidité du matériau, un test de cuisson haute pression... Aux fins du test, si le produit à tester est un semi-conducteur, il est utilisé pour tester la résistance à l'humidité du boîtier semi-conducteur. Le produit à tester est placé dans un environnement difficile de température, d'humidité et de pression. Si le boîtier semi-conducteur n'est pas bon, l'humidité pénétrera dans le boîtier le long du colloïde ou de l'interface entre le colloïde et le cadre conducteur. Effet pop-corn, circuit ouvert provoqué par la corrosion d'une zone métallisée dynamique, court-circuit provoqué par une contamination entre les broches du boîtier... Et autres problèmes connexes.

Structure du test du digesteur sous pression (PCT) :

La chambre d'essai se compose d'un récipient sous pression, comprenant un chauffe-eau pouvant produire un environnement (mouillant) à 100 %. Les différentes défaillances du produit à tester après le test PCT peuvent être causées par une grande quantité de condensation et de pénétration de vapeur d'eau.

Courbe de baignoire :

La courbe de la baignoire (courbe de la baignoire, période de défaillance), également connue sous le nom de courbe de la baignoire, courbe du sourire, montre principalement le taux de défaillance du produit au cours de différentes périodes, y compris principalement la période de mort précoce (période de défaillance précoce), la période normale (période de défaillance aléatoire), période d'usure (période de défaillance de dégradation), selon la boîte de test de fiabilité du test environnemental. Il peut être divisé en test de dépistage, test de durée de vie accéléré (test de durabilité) et test de taux d'échec. La « conception des tests », « l'exécution des tests » et « l'analyse des tests » doivent être considérées dans leur ensemble lors de la réalisation de tests de fiabilité.

Périodes de panne courantes :

Échec précoce (mort précoce, Région de Mortalité Infantile) : production imparfaite, matériaux défectueux, environnement inadapté, conception imparfaite. Période de défaillance aléatoire (période normale, région de vie utile) : choc externe, mauvaise utilisation, changements des conditions environnementales, fluctuations, mauvaises performances de compression. Période de défaillance par dégradation (Wearout Region) : oxydation, vieillissement par fatigue, dégradation des performances, corrosion.

Description du diagramme de stress environnemental et de défaillance :

Selon le rapport statistique de Hughes Airlines, la proportion de stress environnemental causée par la défaillance des produits électroniques, la hauteur représentait 2 %, les brouillards salins représentaient 4 %, la poussière représentait 6 %, les vibrations représentaient 28 %, et la température et l'humidité représentaient jusqu'à 60 %, l'impact des produits électroniques sur la température et l'humidité est donc particulièrement important, mais en raison des tests traditionnels de température et d'humidité élevées (tels que : 40 ℃/90 % R.H., 85 ℃/85 % R.H., 60 ℃ /95%R.H.) prend beaucoup de temps, afin d'accélérer le taux hypersonique du matériau et de raccourcir le temps de test, un équipement de test accéléré (HAST [machine d'essai de durée de vie hautement accélérée], PCT [pot sous pression]) peut être utilisé pour effectuer tests pertinents. On l'appelle également test (période de défaillance dégénérée, période d'usure).