Tests de fiabilité Tests d’accélérationLa plupart des dispositifs semi-conducteurs ont une durée de vie qui s'étend sur plusieurs années en utilisation normale. Cependant, nous ne pouvons pas attendre des années pour étudier un appareil ; nous devons augmenter le stress appliqué. Les contraintes appliquées améliorent ou accélèrent les mécanismes de défaillance potentiels, aident à identifier la cause profonde et aident compagnon de laboratoire prendre des mesures pour éviter le mode de défaillance.Dans les dispositifs semi-conducteurs, certains accélérateurs courants sont la température, l'humidité, la tension et le courant. Dans la plupart des cas, les tests accélérés ne modifient pas la physique de la défaillance, mais décalent le moment de l’observation. Le passage entre les conditions accélérées et les conditions d’utilisation est connu sous le nom de « déclassement ».Les tests hautement accélérés sont un élément clé des tests de qualification basés sur JEDEC. Les tests ci-dessous reflètent des conditions hautement accélérées basées sur la spécification JEDEC JESD47. Si le produit réussit ces tests, les appareils sont acceptables pour la plupart des cas d'utilisation.Cycle de températureConformément à la norme JESD22-A104, le cycle de température (TC) soumet les unités à des transitions de températures extrêmement élevées et basses entre les deux. Le test est effectué en cycliquement l'exposition de l'unité à ces conditions pendant un nombre prédéterminé de cycles.Durée de vie à haute température (HTOL)HTOL est utilisé pour déterminer la fiabilité d’un appareil à haute température dans des conditions de fonctionnement. Le test s'effectue généralement sur une période prolongée conformément à la norme JESD22-A108.Biais de température et d'humidité/test de contrainte fortement accéléré (BHAST)Selon la norme JESD22-A110, THB et BHAST soumettent un appareil à des conditions de température et d'humidité élevées sous une polarisation de tension dans le but d'accélérer la corrosion à l'intérieur de l'appareil. THB et BHAST ont le même objectif, mais les conditions et les procédures de test du BHAST permettent à l'équipe de fiabilité de tester beaucoup plus rapidement que le THB.Autoclave/HAST impartialAutoclave et Unbiased HAST déterminent la fiabilité d'un appareil dans des conditions de température et d'humidité élevées. Comme le THB et le BHAST, il est réalisé pour accélérer la corrosion. Cependant, contrairement à ces tests, les unités ne sont pas soumises à une contrainte de biais.Stockage à haute températureHTS (également appelé Bake ou HTSL) sert à déterminer la fiabilité à long terme d'un appareil sous des températures élevées. Contrairement au HTOL, l’appareil n’est pas en conditions de fonctionnement pendant toute la durée du test.Décharge électrostatique (ESD)La charge statique est une charge électrique déséquilibrée au repos. Généralement, il est créé par le frottement ou la séparation des surfaces de l'isolant ; une surface gagne des électrons, tandis que l’autre surface en perd. Le résultat est une condition électrique déséquilibrée appelée charge statique.Lorsqu'une charge statique se déplace d'une surface à une autre, elle se transforme en décharge électrostatique (ESD) et se déplace entre les deux surfaces sous la forme d'un éclair miniature.Lorsqu’une charge statique se déplace, elle se transforme en courant susceptible d’endommager ou de détruire l’oxyde de grille, les couches métalliques et les jonctions.JEDEC teste l'ESD de deux manières différentes :1. Mode corps humain (HBM)Une contrainte au niveau des composants développée pour simuler l'action d'un corps humain déchargeant la charge statique accumulée via un appareil vers la terre.2. Modèle d'appareil chargé (CDM)Une contrainte au niveau des composants qui simule les événements de charge et de décharge qui se produisent dans les équipements et processus de production, conformément à la spécification JEDEC JESD22-C101.
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