AEC-Q100 - Mécanisme de défaillance basé sur la certification des tests de résistance des circuits intégrésAvec les progrès de la technologie électronique automobile, il existe de nombreux systèmes de contrôle de gestion de données complexes dans les voitures d'aujourd'hui, et via de nombreux circuits indépendants, pour transmettre les signaux requis entre chaque module, le système à l'intérieur de la voiture ressemble à « l'architecture maître-esclave » de le réseau informatique, dans l'unité de commande principale et chaque module périphérique, les pièces électroniques automobiles sont divisées en trois catégories. Y compris les circuits intégrés, les semi-conducteurs discrets et les composants passifs, trois catégories, afin de garantir que ces composants électroniques automobiles répondent aux normes les plus élevées de l'anquan automobile, l'American Automotive Electronics Association (AEC, The Automotive Electronics Council est un ensemble de normes [AEC-Q100] conçu pour les pièces actives [microcontrôleurs et circuits intégrés...] et [[AEC-Q200] conçu pour les composants passifs, qui spécifie la qualité et la fiabilité du produit qui doivent être atteintes pour les pièces passives. Aec-q100 est la norme de test de fiabilité des véhicules formulée. par l'organisation AEC, qui constitue une entrée importante pour les fabricants de 3C et de circuits intégrés dans le module d'usine automobile internationale, et également une technologie importante pour améliorer la qualité de fiabilité des circuits intégrés de Taiwan. De plus, l'usine automobile internationale a passé la norme anquan (ISO). -26262). AEC-Q100 est l’exigence de base pour réussir cette norme.Liste des pièces électroniques automobiles requises pour passer l'AECQ-100 :Mémoire jetable automobile, régulateur abaisseur d'alimentation, photocoupleur automobile, capteur accéléromètre à trois axes, dispositif vidéo Jiema, redresseur, capteur de lumière ambiante, mémoire ferroélectrique non volatile, circuit intégré de gestion de l'alimentation, mémoire flash intégrée, régulateur DC/DC, véhicule dispositif de communication réseau de jauge, circuit intégré de pilote LCD, amplificateur différentiel d'alimentation unique, interrupteur de proximité capacitif désactivé, pilote de LED haute luminosité, commutateur asynchrone, circuit intégré 600 V, circuit intégré GPS, puce de système avancé d'aide à la conduite ADAS, récepteur GNSS, amplificateur frontal GNSS. .. Attendons.Catégories et tests AEC-Q100 :Description : Spécification AEC-Q100 7 grandes catégories, un total de 41 testsGroupe A- TESTS DE STRESS ENVIRONNEMENT ACCÉLÉRÉS se compose de 6 tests : PC, THB, HAST, AC, UHST, TH, TC, PTC, HTSLGroupe B - TESTS DE SIMULATION ACCÉLÉRÉS À VIE se compose de trois tests : HTOL, ELFR et EDRLES TESTS D'INTÉGRITÉ DE L'ASSEMBLAGE DU COLIS se composent de 6 tests : WBS, WBP, SD, PD, SBS, LIGroupe D- Le test de FIABILITÉ DE FABRICATION DES MATRICES se compose de 5 TESTS : EM, TDDB, HCI, NBTI, SMLe groupe TESTS DE VÉRIFICATION ÉLECTRIQUE se compose de 11 tests, dont TEST, FG, HBM/MM, CDM, LU, ED, CHAR, GL, EMC, SC et SER.TESTS DE DÉPISTAGE des défauts F du cluster : 11 tests, dont : PAT, SBALes TESTS D'INTÉGRITÉ DU PACKAGE CAVITY se composent de 8 tests, dont : MS, VFV, CA, GFL, DROP, LT, DS, IWV.Brève description des éléments de test :Climatisation : AutocuiseurCA : accélération constanteCDM : mode appareil chargé par décharge électrostatiqueCHAR : indique la description de la fonctionnalitéDROP : le colis tombeDS : test de cisaillement des copeauxED : Distribution électriqueEDR : durabilité du stockage non sujette aux pannes, conservation des données, durée de vieELFR : taux d’échec en début de vieEM : électromigrationCEM : Compatibilité électromagnétiqueFG : niveau de défautGFL : test de fuite d'air grossier/finGL : Fuite de grille causée par un effet thermoélectriqueHBM : indique le mode humain de décharge électrostatiqueHTSL : durée de conservation à haute températureHTOL : durée de vie à haute températureHCL : effet d'injection de porteur chaudIWV : Test hygroscopique interneLI : intégrité des brochesLT : Test de couple du couvercleLU : effet de verrouillageMM : indique le mode mécanique de décharge électrostatiqueMS : Choc mécaniqueNBTI : instabilité de température à biais richePAT : test de moyenne de processusPC : prétraitementPD : taille physiquePTC : cycle de température de puissanceSBA : Analyse statistique du rendementSBS : cisaillement de billes d'étainSC : fonction de court-circuitSD : soudabilitéSER : taux d'erreur logicielSM : Migration des contraintesTC : cycle de températureTDDB : Temps de claquage diélectriqueTEST : Paramètres de fonction avant et après stress testTH : humidité et chaleur sans parti prisTHB, HAST : tests de température, d'humidité ou de stress hautement accélérés avec biais appliquésUHST : test de résistance à haute accélération sans biaisVFV : vibration aléatoireWBS : coupe au fil de soudureWBP : tension du fil de soudureConditions de test de température et d'humidité finition :THB (température et humidité avec polarisation appliquée, selon JESD22 A101) : 85℃/85%R.H./1000h/biasHAST (test de contrainte hautement accéléré selon JESD22 A110) : 130℃/85%R.H./96h/bias, 110℃/85%R.H./264h/biasAutocuiseur AC, selon JEDS22-A102 : 121 ℃/100%R.H./96hUHST Test de contrainte à haute accélération sans biais, selon JEDS22-A118, équipement : HAST-S) : 110℃/85%R.H./264hTH chaleur humide sans biais, selon JEDS22-A101, équipement : THS) : 85℃/85%R.H./1000hTC(cycle de température, selon JEDS22-A104, équipement : TSK, TC) :Niveau 0 : -50℃←→150℃/2000cyclesNiveau 1 : -50℃←→150℃/1000cyclesNiveau 2 : -50℃←→150℃/500cyclesNiveau 3 : -50℃←→125℃/500cyclesNiveau 4 : -10℃←→105℃/500cyclesPTC (cycle de température de puissance, selon JEDS22-A105, équipement : TSK) :Niveau 0 : -40℃←→150℃/1000cyclesNiveau 1 : -65℃←→125℃/1000cyclesNiveau 2 à 4 : -65℃←→105℃/500cyclesHTSL(Durée de conservation haute température, JEDS22-A103, appareil : FOUR) :Pièces d'emballage en plastique : Grade 0 : 150 ℃/2000hCatégorie 1 : 150 ℃/1000hGrade 2 à 4 : 125 ℃/1000h ou 150℃/5000hPièces d'emballage en céramique : 200 ℃/72hHTOL (Durée de vie haute température, JEDS22-A108, équipement : FOUR) :Catégorie 0 : 150 ℃/1000hClasse 1 : 150℃/408h ou 125℃/1000hNiveau 2 : 125 ℃/408h ou 105 ℃/1000hNiveau 3 : 105 ℃/408h ou 85 ℃/1000hClasse 4 :90℃/408h ou 70℃/1000h ELFR (taux d'échec en début de vie, AEC-Q100-008) : Les appareils qui réussissent ce test de résistance peuvent être utilisés pour d'autres tests de résistance, les données générales peuvent être utilisées et les tests avant et après ELFR sont effectués dans des conditions de température douces et élevées.
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