Le rôle de la chambre d’essai à haute et basse température pour les tests de composants électroniques

Le rôle de la chambre d’essai à haute et basse température pour les tests de composants électroniques

Chambre d'essai haute et basse température est utilisé pour les composants électroniques et électriques, les pièces d'automatisation, les composants de communication, les pièces automobiles, le métal, les matériaux chimiques, les plastiques et autres industries, l'industrie de la défense nationale, l'aérospatiale, l'armée, le BGA, la clé à substrat PCB, les puces électroniques IC, les semi-conducteurs céramiques magnétiques et polymères. changements physiques importants. Tester les performances de son matériau pour résister à des températures élevées et basses et aux changements chimiques ou aux dommages physiques du produit lors de la dilatation et de la contraction thermiques peut confirmer la qualité du produit, des circuits intégrés de précision aux composants de machines lourdes, sera une chambre d'essai essentielle pour tests de produits dans divers domaines.

Que peut faire la chambre d’essai à haute et basse température pour les composants électroniques ? Les composants électroniques constituent la base de toute la machine et peuvent provoquer des pannes liées au temps ou au stress lors de l'utilisation en raison de leurs défauts inhérents ou d'un contrôle inapproprié du processus de fabrication. Pour garantir la fiabilité de l'ensemble du lot de composants et répondre aux exigences de l'ensemble du système, vous devez exclure les composants susceptibles de présenter des défauts initiaux dans les conditions de fonctionnement.

1. Stockage à haute température

La défaillance des composants électroniques est principalement causée par diverses modifications physiques et chimiques du corps et de la surface, étroitement liées à la température. Une fois la température augmentée, la vitesse de réaction chimique est considérablement accélérée, accélérant ainsi le processus de défaillance. Les composants défectueux peuvent être exposés à temps et éliminés.

Le blindage à haute température est largement utilisé dans les dispositifs semi-conducteurs, ce qui permet d'éliminer efficacement les mécanismes de défaillance tels que la contamination de surface, une mauvaise liaison et les défauts de la couche d'oxyde. Généralement stocké à la température de jonction la plus élevée pendant 24 à 168 heures. Le criblage à haute température est simple, peu coûteux et peut être réalisé sur de nombreuses pièces. Après un stockage à haute température, les performances des paramètres des composants peuvent être stabilisées et la dérive des paramètres en cours d'utilisation peut être réduite.

2. Test de puissance

Lors du criblage, sous l'action combinée des contraintes thermoélectriques, de nombreux défauts potentiels du corps et de la surface du composant peuvent être bien exposés, ce qui constitue un projet important de criblage de fiabilité. Divers composants électroniques sont généralement raffinés pendant quelques heures à 168 heures dans des conditions de puissance nominale. Certains produits, tels que les circuits intégrés, ne peuvent pas modifier arbitrairement les conditions, mais peuvent utiliser le mode de fonctionnement à haute température pour augmenter la température de jonction de travail afin d'atteindre un état de contrainte élevé. Le raffinage de puissance nécessite un équipement de test spécial, une chambre de test à haute et basse température, un coût élevé, le temps de dépistage ne doit pas être trop long. Les produits civils durent généralement quelques heures, les produits militaires de haute fiabilité peuvent choisir 100 168 heures et les composants de qualité aéronautique peuvent choisir 240 heures ou plus.

3. Cycle de température

Les produits électroniques seront confrontés à différentes conditions de température ambiante pendant leur utilisation. Sous la contrainte de la dilatation et de la contraction thermiques, les composants ayant de mauvaises performances d'adaptation thermique sont faciles à échouer. Le contrôle du cycle de température utilise la contrainte de dilatation et de contraction thermique entre des températures extrêmement élevées et extrêmement basses pour éliminer efficacement les produits présentant des défauts de performances thermiques. Les conditions de criblage des composants couramment utilisées sont de -55 à 125 ℃, 5 à 10 cycles.

Le raffinage de puissance nécessite un équipement de test spécial, un coût élevé, le temps de dépistage ne doit pas être trop long. Les produits civils durent généralement quelques heures, les produits militaires de haute fiabilité peuvent choisir 100 168 heures et les composants de qualité aéronautique peuvent choisir 240 heures ou plus.

4. La nécessité de filtrer les composants

La fiabilité inhérente des composants électroniques dépend de la conception fiable du produit. Dans le processus de fabrication du produit, en raison de facteurs humains ou de fluctuations des matières premières, des conditions de processus et des conditions de l'équipement, le produit final ne peut pas tous atteindre la fiabilité inhérente attendue. Dans chaque lot de produits finis, il y a toujours des produits présentant des défauts et des faiblesses potentiels, caractérisés par une défaillance précoce dans certaines conditions de contrainte. La durée de vie moyenne des premières pièces défectueuses est beaucoup plus courte que celle des produits normaux.

La fiabilité des équipements électroniques dépend de la fiabilité des composants électroniques. Si les pièces de défaillance précoce sont installées avec l'ensemble de l'équipement de la machine, le taux de défaillance de l'ensemble de l'équipement de la machine sera considérablement augmenté, et sa fiabilité ne répondra pas aux exigences, et la réparation coûtera également très cher. .

Par conséquent, qu’il s’agisse d’un produit militaire ou d’un produit civil, le contrôle est un moyen important pour garantir la fiabilité. La chambre d'essai à haute et basse température est le meilleur choix pour le test de fiabilité environnementale des composants électroniques.